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辐照面积检测

检测项目

1. 辐照强度分布:测量0.1-1000 W/cm²范围内的光强梯度变化

2. 能量密度均匀性:评估±5%偏差内的能量分布一致性

3. 有效辐照边界:测定光斑直径50-300mm的90%能量阈值边缘

4. 波长匹配度:验证250-2500nm光谱范围与标称值±3nm偏差

5. 时间稳定性:监测连续8小时工作时的输出波动≤±1.5%

检测范围

1. 半导体晶圆:硅片/砷化镓基板的紫外固化区域验证

2. 光伏组件:PERC/HJT电池片的激光刻蚀区域分析

3. 医疗灭菌包装:EO灭菌袋的γ射线辐照剂量分布测绘

4. 高分子涂层:UV固化涂料的385-405nm波段响应测试

5. 光学薄膜:AR镀膜层的532nm激光损伤阈值测定

检测方法

ASTM E772:太阳能模拟器空间均匀性测试规范

ISO 13605:电离辐射场均匀性评估导则

GB/T 26168.1:电子元器件辐照试验通用要求

IEC 62471:光生物安全辐照度测量程序

ISO/ASTM 51608:X射线灭菌剂量分布验证规程

检测设备

1. Ophir PD300-3W激光功率计:测量0.1-3000mW/cm²光强分布

2. Gentec-EO Beamage-4M光斑分析仪:CCD分辨率1920×1200像素

3. SpectroSense® X12辐射计:覆盖200-1100nm光谱响应

4. ILT950UV光谱辐射计:波长精度±0.3nm@365nm

5. VSL-CELL-1000太阳模拟器:AAA级光谱匹配度

6. PTW BeamScan®电离室矩阵:49通道剂量率同步采集

7. Hamamatsu C12880MA微型光谱仪:340-850nm波长实时监测

8. Keysight N1913A功率传感器:30pW-30W宽动态范围测量

9. Thermo Scientific RadEye PRD探测器:X/γ射线剂量率成像

10. Labsphere LMS-7600光辐射校准系统:±1%不确定度基准源

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

辐照面积检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。